Beckman Coulter · Análisis y conteo de partículas

LS 13 320 XR

Analizador por difracción láser con detección directa de 10 nm a 3500 µm.

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LS 13 320 XR / Beckman Coulter
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Analizador por difracción láser con detección directa de 10 nm a 3500 µm.

Aplicaciones ideales
  • Distribución de tamaño de partícula
  • Caracterización de partículas
  • Control de calidad

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