ZEISS · Microscopía electrónica (SEM/FIB)

GEMINISEM 560

Microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss.

below 1 nm

Resolución

1 kV

Aceleración (g)

800 V

Aceleración (g)

GEMINISEM 560 / Zeiss

GEMINISEM 560 es un(a) microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss, orientado a imagenología de alta resolución y análisis de superficie.

Aplicaciones ideales
  • Imagenología de alta resolución
  • Análisis de superficie
  • Caracterización de materiales
Especificaciones
Resolución
sub-nanometer
Resolución
below 1 nm
Aceleración (g)
1 kV
Aceleración (g)
800 V
Aceleración (g)
30 kV
Aceleración (g)
20 kV
Aceleración (g)
5 kV
Corriente de haz
5 nA
Campo magnético en la muestra
less than 2 mT
Campo magnético en la muestra
3× lower
Campo magnético en la muestra
1 mT
Distancia de trabajo
5 mm
Aumento
1× up to 2,000,000×
Tamaño de marco de imagen
32k × 24k
Energía de electrones secundarios
less than 50 eV
Ángulo de electrones retrodispersados
15 degree
Velocidad
4000 patterns/s
Puntos EBSD capturados
185 thousand
Tiempo de análisis EBSD
20 minutes
Industrias
MaterialesInvestigaciónSemiconductoresNanotecnología

Modelos de la familia

GEMINISEM 460GEMINISEM 560

Equipos relacionados

¿Te interesa el GEMINISEM 560?

Cuéntanos tu aplicación y un especialista de Inolab te ayuda con la configuración y la cotización.

Hablar con un especialista