ZEISS · Microscopía electrónica (SEM/FIB)

GEMINISEM 560

Microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss.

below 1 nm

Resolución

1 kV

Aceleración (g)

800 V

Aceleración (g)

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GEMINISEM 560 / Zeiss

GEMINISEM 560 es un(a) microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss, orientado a imagenología de alta resolución y análisis de superficie.

Aplicaciones ideales

Imagenología de alta resolución
Análisis de superficie
Caracterización de materiales

Especificaciones

Resolución: sub-nanometer
Resolución: below 1 nm
Aceleración (g): 1 kV
Aceleración (g): 800 V
Aceleración (g): 30 kV
Aceleración (g): 20 kV
Aceleración (g): 5 kV
Corriente de haz: 5 nA
Campo magnético en la muestra: less than 2 mT
Campo magnético en la muestra: 3× lower
Campo magnético en la muestra: 1 mT
Distancia de trabajo: 5 mm
Aumento: 1× up to 2,000,000×
Tamaño de marco de imagen: 32k × 24k
Energía de electrones secundarios: less than 50 eV
Ángulo de electrones retrodispersados: 15 degree
Velocidad: 4000 patterns/s
Puntos EBSD capturados: 185 thousand
Tiempo de análisis EBSD: 20 minutes

Industrias

MaterialesInvestigaciónSemiconductoresNanotecnología

Modelos de la familia

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