ZEISS · Microscopía electrónica (SEM/FIB)

MULTISEM 706

Microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss.

91

Número de haces de electrones

80 MHz

Velocidad

12.5 ns

Tiempo de permanencia de píxel

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MULTISEM 706 / Zeiss

MULTISEM 706 es un(a) microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss, orientado a imagenología de alta resolución y análisis de superficie.

Aplicaciones ideales
  • Imagenología de alta resolución
  • Análisis de superficie
  • Caracterización de materiales
Especificaciones
Número de haces de electrones
91
Velocidad
80 MHz
Tiempo de permanencia de píxel
12.5 ns
Área de muestra
10 x 10 cm
Tamaño de píxel
4 nm
Tiempo de adquisición para 1 mm²
menos de dos minutos
Tasa de adquisición
más de 3 TB/hora
Velocidad
1.22 gigapíxeles/segundo
Energía de aterrizaje
1 keV
Industrias
MaterialesInvestigaciónSemiconductoresNanotecnología

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