ZEISS · Microscopía de rayos X

Versa XRM 730

Microscopio de rayos X de Zeiss.

450 nm

Resolución

1 minute

Tomography time (FAST Mode)

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Versa XRM 730 / Zeiss

Versa XRM 730 es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, orientado a tomografía no destructiva y análisis interno 3d.

Aplicaciones ideales
  • Tomografía no destructiva
  • Análisis interno 3D
  • Caracterización de materiales
Especificaciones
Resolución
450 nm
Tomography time (FAST Mode)
1 minute
Industrias
MaterialesInvestigaciónElectrónicaGeociencias

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