ZEISS · Microscopía de rayos X

Xradia 515 Versa

Microscopio de rayos X de Zeiss.

500 nm

Resolución

50 mm

Resolución

1.0 μm

Resolución

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Xradia 515 Versa / Zeiss

Xradia 515 Versa es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, orientado a tomografía no destructiva y análisis interno 3d.

Aplicaciones ideales
  • Tomografía no destructiva
  • Análisis interno 3D
  • Caracterización de materiales
Especificaciones
Resolución
500 nm
Resolución
50 mm
Resolución
1.0 μm
Resolución
700 nm
Resolución
750 nm
Minimum Achievable Voxel
40 nm
Voltaje
30 – 160 kV
Maximum Output
10 W
X-ray Source Architecture
Sealed transmission, fast activation
Standard Objectives
0.4×, 4×, 20×
Optional Objectives
40×, Flat Panel Extension (FPX)
Capacidad
25 kg
Sample stage travel x
-50 mm
Sample stage travel y
-100 mm
Sample stage travel z
-50 mm
Control System
Scout-and-Zoom
Voltaje
STEP Mode only
Source Filters
Single manual filter holder, 12 standard filters included
GPU CUDA-based Reconstruction
Dual
Industrias
MaterialesInvestigaciónElectrónicaGeociencias

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